1NM掃描電遷移粒徑譜儀特點與優(yōu)勢

快速獲得粒徑和數量濃度的高分辨率數據

·優(yōu)化使擴散損失最小

·1至50nm間>109個通道

·配合3081A長DMA差分靜電遷移分析儀使用，可測量從1nm到1μm 3個粒徑數量級的粒子

模塊化組件設計，可以根據用戶測量需求定制，例如單獨使用1nm CPC等

內置診斷和自動檢測系統(tǒng)組件，可以獲得可靠和可重復的測量數據

易于安裝和使用的氣溶膠儀器管理器（AIM）軟件

多功能的粒子測量方式：適用于多模樣品

1NM掃描電遷移粒徑譜儀應用范圍

基礎氣溶膠研究

通過粒子源（如火焰合成、激光燒蝕、火花產生和成核/凝結）研究粒子成核和粒子生長。

燃燒和發(fā)動機排氣研究（有機燃料、低于3nm的排放、天然氣發(fā)動機、塑料成型和焊接

過濾研究

吸入或暴露室研究

*SMPS光譜儀包含3082型分級器、1nm DMA差分靜電遷移分析儀、3757型納米增強儀和3750型凝聚核粒子計數器等組件。

1NM掃描電遷移粒徑譜儀技術資料

●1NM掃描電遷移粒徑譜儀規(guī)格表